產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
TH2638A電容測量儀性能特點■ 4.3寸TFT液晶顯示■ 中英文可選操作界面■ zui高100kHz的測試頻率■ zui高測試速度:2.3ms/次■ 測試電容基本精度±0.07%■ 損耗因數(shù):±0.0005■ V、I 測試信號電平監(jiān)視功能■ 低阻抗測試,信號電平補償功能■ 內(nèi)建比較器,11檔分選■ 內(nèi)部文件存儲和外部U盤文件保存
TH2638A電容測量儀
簡要介紹
■ TH2638A高速精密電容測量儀是具有更高測試頻率的新型數(shù)字電容測量儀器,其體積小,緊湊便攜,便于上架使用。該儀器 測量電容基本精度為±0.07%,損耗精度高達0.0005,測試頻率 zui高可達1MHz,4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面,操作方便 快捷。TH2638系列可以為陶瓷電容器生產(chǎn)測試提供高速、可靠的 測量。該儀器能夠精確測量從低值到高值的各類電容。在對同一 個電容器進行多次測量的結(jié)果*性好,即使是很低的電容值也 可以很精確地測量出來。該儀器兼容SCPI命令集,帶有機械手接 口和掃描器接口,掃描接口可逐個的對各個測試通道到開路/短 路/負載誤差校正進行掃描,zui多可以掃描256個通道。在低頻時 儀器內(nèi)部帶有信號電平補償功能,當被測件阻抗很小時,信號源 內(nèi)阻和測試線纜將會引起被測件兩端的電壓低于設定電壓范圍, 使用信號電平補償功能就會調(diào)整被測件上的電平到設定值范圍內(nèi)。特別針對生產(chǎn)線測試上增加了對不良接觸的檢查功能,其能夠 發(fā)現(xiàn)被測器件與測試儀器之間可能出現(xiàn)的不良接觸,無需額外的 時間來執(zhí)行此操作;在與實際測試保持同步的信號源功能,其只 有在進行真測試的時候才把測試信號施加到被測器件上,在放置 和取下被測器件的瞬間不會給被測器件施加測試信號,這樣就顯 著的降低了在接觸不良的情況下較大測試電流對測試夾具或觸點 的蝕損;當測試頻率為1MHz時,可對測試頻率進行偏移設置(偏 移值為±1%,±2%)這一功能在陣列式電容器測試系統(tǒng)中可消 除相鄰測量終端受到干擾,還可以降低測量結(jié)果的波動。儀器還 帶有料箱分類功能,可以按照產(chǎn)品的質(zhì)量設置9個料箱根據(jù)C-D/ Q/R/G的測試結(jié)果確定產(chǎn)品合格與不合格,并放入不同等級到料箱內(nèi)。
性能特點
■ 4.3寸TFT液晶顯示
■ 中英文可選操作界面
■ zui高100kHz的測試頻率
■ zui高測試速度:2.3ms/次
■ 測試電容基本精度±0.07%
■ 損耗因數(shù):±0.0005
■ V、I 測試信號電平監(jiān)視功能
■ 低阻抗測試,信號電平補償功能
■ 內(nèi)建比較器,11檔分選
■ 內(nèi)部文件存儲和外部U盤文件保存
■ 測量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤
■ 截屏保存到U盤
■ 兼容SCPI命令集
■ RS232C、USB CDC、LAN、HANDLER、GPIB接口
■ HANDLER接口、SCANNER接口
■ 接觸檢查功能
■ 同步信號源
技術(shù)參數(shù)
型號 | TH2638A | |
測試信號參數(shù) | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs | |
測試信號 | ||
頻率
| 允許頻率 | 100Hz,120Hz, 1kHz,10kHz,100kHz |
精度 | ±0.02% | |
| 范圍 | 0.1V-1V |
電平 | 分辨率 | 0.01V |
| 精度 | ±5% |
輸出方式 | 連續(xù)或同步 | |
信號源延時 | 范圍 | 0-1s |
分辨率 | 0.1ms | |
信號電平補償 | 100/120Hz | 220μF, 470μF, 1mF量程 |
1kHz | 22μF, 47μF, 100μF量程 | |
|
| SLC OFF ( ≥ 220μF 量程) 1.5 Ω |
| 100 Hz | SLC ON ( ≥ 220μF 量程) 0.3 Ω |
| 120Hz | 2.2μF - 100μF 量程 0.3 Ω |
|
| 10 nF - 1μF 量程 10 Ω |
輸出阻抗 |
| SLC OFF ( ≥ 22μF 量程) 1.5 Ω |
| 1kHz | SLC ON ( ≥ 22μF 量程) 0.3 Ω |
|
| 220 nF - 10μF 量程 0.3 Ω |
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| 100 pF - 100 nF 量程 10 Ω |
| 10kHz/100kHz | 10 Ω |
| 1MHz |
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測試速度 | 五檔測試速度選擇:1,2,4,6,8 | |
| 100/120Hz | 11ms |
zui快測量速度 | 1kHz | 3ms |
| 10k/100kHz | 2.3ms |
| 1MHz |
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測試量程方式 | 自動、保持 | |
| 100Hz/120Hz | 10 nF, 22 nF, 47 nF, 100 nF, 220 nF, 470 nF, 1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF, 22μF, |
| 47μF, 100μF, 220μF, 470μF, 1 mF | |
| 1k Hz | 100 pF, 220 pF, 470 pF, 1 Nf, 2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, 22 nF,47 nF, 100 nF, |
| 220 nF ,470 nF,1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF,22μF, 47μF, 100μF | |
測試信號頻率量程 | 10k Hz | 100 pF , 220 pF, 470 pF, 1 nF,2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, 22 nF,47 nF, 100 nF, |
| 220 nF , 470 nF,1μF, 2.2μF , 4.7μF, 10μF | |
| 100k Hz | 10 pF, 22 pF, 47 pF, 100 pF, 220 pF , 470 pF, 1 nF,2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, |
| 22 nF,47 nF, 100 nF | |
| 1MHz |
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平均次數(shù) | 1 - 256 | |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部,手動,外部,總線(除GPIB) | |
觸發(fā)延時時間 | 范圍 | 0 - 1s |
分辨率 | 0.1ms | |
測量顯示范圍 | ||
| Cs , Cp | ±1.000000 aF to 999.9999 EF |
| D | ±0.000001 to 9.999999 |
參數(shù)( a : 1x10-18,E:1x1018 ) | Q | ±0.01 to 99999.99 |
| Rs, Rp | ±1.000000 aΩ to 999.9999 EΩ |
| G | ±1.000000 aS to 999.9999 ES |
| Δ% | ±0.0001 % to 999.9999 % |
基本測量準確度 | C:0.07%, D:0.0005 | |
顯示方式 | 浮動/固定小數(shù)點顯示、ΔABS、Δ% | |
列表掃描 | 10點列表掃描,可對頻率、電壓進行掃描 | |
比較器功能 | 11檔 BIN1-BIN9、OUT_OF_BIN、AUX_BIN | |
接口 | RS232C, LAN, USB CDC, HANDLER | |
內(nèi)部存儲 | 40個儀器設定文件 | |
| GIF圖像 | |
外部USB存儲 | 40個儀器設定文件 測試數(shù)據(jù)USB存儲器直接存儲 截屏文件直接保存USB存儲器 | |
一般技術(shù)指標 | ||
溫度、濕度、海拔(操作環(huán)境) | 0 ℃ - 45 ℃,15% - 85% RH (≤40℃,無冷凝),0 - 2000m | |
| 電壓 | 90VAC - 264VAC |
供電電源 | 頻率 | 47Hz - 63Hz |
| 功耗 | zui大150VA |
溫度、濕度、海拔(存儲環(huán)境) | -20 ℃ - 70 ℃,0 - 90% RH (≤65℃,無冷凝),0 - 4572m |
注:1MHz時包含 1MHz±1%,1MHz±2% a: 1 x 10 -18, E: 1 x 10 的18次方